Услуга по выполнению периодических испытаний микросхем, детекторов, диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам в 2019 году

Дата окончания приема заявок: 25.07.2018, 23:59

Лоты (1 шт)

  1. Услуга по выполнению периодических испытаний микросхем, детекторов, диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам в 2019 году
    Регионы, заказчики, места поставки:
    Регионы Заказчик Место поставки
    г Москва доступно клиентам компании доступно клиентам компании
    Объекты лота:
    Наименование Цена за ед. Кол-во Ед. изм. Сумма
    Периодические испытания микросхем, детекторов, диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам не указана 1 не указана не указана